致茂电子推出客户全系列LED测试解决方案
2007-06-20 12:25:24 [编辑：jane.hjh]
台湾量测仪器大厂致茂电子在2007年台北光电周(6月13-6月16)间，针对当今最热门的LED产业推出了系列的工艺测试解决方案。
致茂电子所开发的LED测试设备是应用于中游芯片切割前后及芯片扩张前后，针对芯片的电性、光学及静电放电(ESD)测试，并可结合点测机(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面，轻松快速地检测LED芯片及芯片。
针对下游的封装阶段，也可进行静电放电、热阻(Thermal Resistance)及温控(Tri-temperature)测试，以便仿真温度、湿度的环境变化，量测LED模组的电性及光学特性。
另外，在本次展览中，致茂还首度展出了LED目检机，可替代人工的检测专案，将破损或外观有问题的芯片直接挑出，大量降低了人工成本，达到了准确、快速的检测目的。同时，为了满足客户不同需求，致茂还提供各种客制化的LED电性、光学测试设备，降低了制造成本，提高了客户在同业的竞争力。
【版权声明】
「LEDinside - LED在线」所刊原创内容之著作权属于「LEDinside - LED在线」网站所有，未经本站之同意或授权，任何人不得以任何形式重制、转载、散布、引用、变更、播送或出版该内容之全部或局部，亦不得有其他任何违反本站著作权之行为。
【免责声明】
1、「LEDinside - LED在线」包含的内容和信息是根据公开资料分析和演释，该公开资料，属可靠之来源搜集，但这些分析和信息并未经独立核实。本网站有权但无此义务，改善或更正在本网站的任何部分之错误或疏失。
2、任何在「LEDinside - LED在线」上出现的信息（包括但不限于公司资料、资讯、研究报告、产品价格等），力求但不保证数据的准确性，均只作为参考，您须对您自主决定的行为负责。如有错漏，请以各公司官方网站公布为准。
