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一、什麼是EOS?
EOS
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ESD
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典型地,由电源和测试设备产生
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ESD属于EOS的特例,有限的能量,由静电荷引起
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事件持续时间在微秒~秒级. (也可能是毫微秒)
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事件持续时间在微微秒~毫微秒级
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损坏的现象包括金属线熔化、发热、高功率、閂锁效应
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其可见性不强损坏位置不易发现,
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短的EOS脉冲损坏看起来像ESD损坏
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通常导致电晶体级别的损坏。
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