据外媒报道，日本光侦测器制造商Hamamatsu Photonics（滨松光子）开发了一个高速检测系统，可在晶圆上快速检测Micro LED芯片的质量。
据悉，该检测系统名为MiNY PL，采用光致发光测试技术（PL）来检测LED芯片外表、发光强度和波长的异常问题，所用光致发光测试技术是基于滨松光子的图像处理技术和新开发的成像模组。
滨松光子表示，MiNY PL系统在检测Micro LED芯片时能够快速判断芯片是否合格，这有利于提升显示用Micro LED产品的良率及Micro LED的研发效率。
此外，MiNY PL系统将简化未来Micro LED量产产线上100%的检测过程。
图片来源：滨松光子
无独有偶，日前也有消息透露，苹果正在开发Micro LED检测系统，并且已经获得相关专利。
苹果的系统是在Micro LED芯片转移至显示面板之前对芯片质量进行检测并精准定位，目的同样是降低缺陷率和生产制程的损失，从而提高显示屏的可靠性，保证产品质量。
Micro LED尺寸微缩化，芯片使用数量和转移接合过程的工作量都大幅增加，若芯片缺陷率过高，就会降低后续制程的生产良率，增加返修工作量和整体成本。因此，从检测芯片质量等前端制程开始把控生产良率尤为关键，但这也是Micro LED产业的难点之一。
为此，不少设备商加大对Micro LED检测设备的研发力度，目前进度不一。不管具体细节如何，眼下相关消息表明了芯片质检环节已有所突破，这对于Micro LED产业来说，是一大利好消息。（文：LEDinside Janice）
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