2016LED失效分析与封装技术专题研讨会邀请函

展会名称 2016LED失效分析与封装技术专题研讨会邀请函
展会地区 亚洲
展会国家 中国
展会城市 广东深圳
展会日期 2016-09-23 ~ 2016-09-23
参展摊位
参观人数
活动网址

    2016 LED失效分析与封装技术专题研讨会邀请函

        一场足以改变产品良率的研讨会

LED失效可能发生在产品生命周期的各个阶段,产品设计、原材料、工艺筛选、可靠性试验、现场使用都可能发生失效现象,因此,深刻理解LED失效分析对产品的生产和使用意义非凡。

为了更好的服务LED行业客户,创造一个长期稳定的交流平台,便于企业沟通学习,同时分享美信检测于日常工作中积累的经典案例,帮助客户解决LED产品工艺、技术、测试等各种影响产品品质的问题,美信检测将于923日在深圳·恒丰海悦国际酒店举办2016LED失效分析与封装技术专题研讨会,广邀周边地区LED企业的专业人士参加。

时间地址

时间:2016923

地点:深圳恒丰海悦国际酒店  深圳市宝安区宝城八十区新城广场(西乡办事处正对面,港隆城旁边)

课题安排

13:00-13:30签到

13:30-13:50致辞

13:50-14:30LED产品失效分析技术与案例分享

1.LED失效分析简介

2. 固晶和互连不良引起的失效

3. 塑封不良引起的失效

4. 芯片、封装及应用过程中物料不良引起的LED失效

14:30-14:40互动问答

14:40-14:55活动茶歇

14:55-15:35显微分析技术在LED产品分析中的应用

15:35-15:45互动问答

15:45-16:25LED灯具结温测试方法及热特性分析

1.LED灯具散热性能的评价方法

2. 电学法实现结构热阻测量的基本原理

3. 不同电气连接条件下等效K系数研究

4. LED结构热阻模型的应用

16:25-16:35互动问答16:35-16:45活动交流 

讲师介绍

王君兆

美信检测 研发经理中国机械工程学会失效分析分会失效分析专家IPC China Apex 4-14 CN工作组专家在电子封装、组装领域有多年的产品研发、工艺开发经验,并于国外核心期刊《Journal of Materials Processing Technology》发表多篇论文。

张东旭

深圳市新则兴科技有限公司

产品应用高级工程师

章锐华

美信检测 研发中心 失效分析专家在LED光学设计方面拥有非常丰富的实践经验与理论基础,曾在第四届LED照明光学技术研讨会会议文集发表专业论文,并已申请多个专利。

专利:

一种照明及设备控制、终端,专利号:ZL 2014 2 0423354.2

一种芯片级白光LED,专利号:ZL 2014  2 0423870.5

拟邀企业

美的 、创维 、佳光电子 、创显光电 、雷曼光电 、迈锐光电 、艾比森光电、利亚德光电、瑞丰光电、奥拓电子、晶台光电、FlextronicsMicrosoftPhilips、中塑在线 、马力等等。

研讨会福利

本次研讨会全程免费,请携带名片参加。名额有限,欲报从速!凭此邀请函可至现场免费领取美信检测2016材料行业最有价值刊物《2016美信检测案例库》。

往期回顾

美信检测161-8月共举办研讨会11场,独立举办5场,分别在深圳、东莞、苏州、上海,接待企业200家以上,其中不乏比亚迪、大众、富士康、中兴、苹果、长虹等知名企业。其中深圳企业占32%,东莞企业26%,苏州与上海持平各占21%。美信检测自成立以来,不断加大对LED全面解决方案的投入,作为第三方检测服务行业,我们能为LED行业提供极其到位的检测服务及全面解决方案,通过技术力量,保障LED产品品质,成为LED行业的最佳合作伙伴。

主办单位:美信检测

协办单位:SSLA

会议咨询

李蒙:0755-36606307   邮箱:limeng@mttlab.com

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